蒸发腔体胶圈密封前开门便于腔体内部操作
基片挡板开启由膜厚仪闭环控制
可在LOAD LOCK内等离子体或离子源基片清洗
可在LOAD LOCK内基片氧化
系统安全互锁
计算机控制全自动或手动操作
典型应用
用于薄膜沉积研发
LIFT-OFF工艺的理想平台
可蒸发金属,半导体或介质材料
可蒸发磁性材料
主要配置
304不锈钢,前开门并有观察窗
真空泵
蒸发室配备分子泵或冷凝泵和无油机械泵
真空阀门
气动控制高真空阀门
真空测量
宽量程真空计用于测量真空和粗抽计
多坩埚电子束蒸发源自动导位
样品台
顶部安装的自转基片台 可选可倾角和自转基片台 (可选加热至600度) (可选冷却至-150度)
膜厚检测
晶振速率膜厚监控
主要技术指标
5E-7Torr (可选5E-8Torr)
装样能力
一个最大6英寸的平板基片或多个小片
膜厚均匀性
在4英寸基片上为+/-2%
蒸发速率分辨率
0.01 A/s
膜厚分辨率
0.1 A
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